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动态特性测试仪

ME300D是Firstack总结10多年IGBT/SiC MOSFET应用经验开发的功率半导体动态参数测试系统,并经历了ME100D,ME200D,ME300D三代产品迭代,致力于帮助客户进行功率半导体开发测试验证,功率半导体应用测试验证。ME300D具备高准确度,高效率,高智能化特点,测试电压最高可达6000V,电流10000A。

产品简介

测试范围:

最大电压2000V/6000V(可选)

最大电流10000A(单双脉冲)

短路电流12000A

测试项目:

基本项目:单脉冲、双脉冲、短路(SCSOA)

选配项目:运行边界(RBSOA)、并联均流特性测试、模块对比、窄脉冲、回路杂感、QG

测试对象:

IGBT

SiC MOSFET

Power Stack

准确性与率:

探头相位延时校准(自带专利校准技术)

一键报告自生成

一次完成三相6管测试(选配工装)

关键数据总览

设备柜尺寸
650*800*1970mm
模组柜尺寸
800*800*1970mm
重量
设备柜体<350kg,模组柜<250kg
交流输入电压
单相 220±5%Vac 32A,功率6kVA,频率47-63Hz;
测试电压电流

DC20-6000V ±(1%FS+3V),50-10000A±(2%+2A);

短路电流最大12000A

支持两电平、三电平拓扑
充电时间
测试工况@(1A,4.8mF),充电至1kV, 充电时间<10s
负载电感
10/20/50/100/200/500µH
脉宽t1/t2/t3
1~500µs,分辨率0.1µs
温控平台
室温至200℃,精度±(2%+3)℃
工作温度
15℃至45℃
储存温度
-20℃至50℃
使用海拔
< 2000m
散热方式
风冷

文档下载
  • 动态特性测试仪产品说明书